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Nome Rivista: The Physics of SiO2 and its Interfaces
Titolo Articolo: THE PROPERTIES OF ELECTRON AND HOLE TRAPS IN THERMAL SILICON DIOXIDE LAYERS GROWN ON SILICON
Autore/i: D DIMARIA
ISSN:
DOI: 10.1016/B978-0-08-023049-8.50034-8
Anno: 1978
Volume:
Fascicolo:
Pagina iniziale: 160
Pagina Finale: 178

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Rita Poerio
Coll. Amministrazione
Referente Biblioteca
CNR-ISASI Pozzuoli (NA)
Tel. 0818675137





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